소형주사전자현미경
Scanning Electron Microscope- 모델명 : AIS 2300C
- 제조사 : 새론테크놀로지 / 한국
- 담당자 : 이경민 (053-819-8127)
- 이메일 : kmlee@gbtp.or.kr
- E-TUBE : 1506-A-0618
- NTIS : NFEC-2015-11-206184
- 장비이용료 : 4,000원/건(회당 기본료 5,000원)
사용용도
원리/특징
·주사전자현미경으로 최대 300,000배 이미지 관찰·의료용 섬유의 구조 및 기공분석에 특화
장비사양
·Scanning Electron Microscope (SEM)·주요사양
- Resolution 3nm @ 30 KV,
- Magnification 10 ~ 300,000배 (Max. 1,000,000 X 가능)
- Image ET-Detector
- Beam Scan Mode Search, Inspection, Photo (3step)
- Accelerating Voltage 1 kV ~ 30 kV, Low KV영상 확보 가능
- Electron Gun Type Tungsten Filament
- Pixel Resolution 640 × 480, 1,024 × 768, 2,048 × 1,536,
4,096 × 3,072, 5,120 × 3,840